安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布:安捷伦与全球领先的半导体存储器产品供应商――海力士半导体公司(Hynix Semiconductor Inc.)携手推出一款高带宽、高性能的长线 ZIF(零插入力)探针,该探针经过优化,适用于 DDR(双数据速率)和 GDDR(图形双数据速率)SDRAM 的验证测试。当距离探测信号较远时,长线 ZIF 探针使工程师能够对高速信号进行精确的测量。这些探针与安捷伦屡获殊荣的 InfiniiMax 和 ZIF 探测系统结合使用,可提高每个焊接件的可用性并降低测试成本。
该探测选件解决了 DDR 设计中的一个基本难题:使工程师能够在保持信号完整性的同时,对 DRAM 芯片上难以触及的位置进行探测。随着 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不断提高,设计裕量变得越来越少,探测系统的性能也变得更加重要。长线 ZIF 探针解决了这个探测难题。
DDR 和 GDDR 验证的另一个难题是根据 JEDEC 技术指标需要测试大量信号。长线 ZIF 探针使工程师能够轻松地对 SDRAM 设备上需要探测的多个信号进行切换。
长线 ZIF 探针完全满足对 DDR 存储器设计进行全面一致性测试的需求。
海力士图形存储器应用部副总裁 Kun-Sang Yoon表示:“我们对原来的 Agilent ZIF 探针附件一直都非常满意,但是我们希望有更长、更灵活的探针,以便能够探测距离更远的信号。安捷伦听取了我们的反馈意见,并快速做出回应,为我们提供了令人满意的探测解决方案。长线 ZIF 探针附件具有很高的信号完整性性能,使我们能够精确测量高速信号。”
安捷伦科技副总裁兼示波器产品线部门总经理Scott Sampl表示:“安捷伦密切关注客户的需求。我们的专家与海力士等业界领先厂商以及标准机构紧密合作,所以我们能够迅速做出反应,及时进行改变,以提高测量效率和精度。从 BGA 探测技术到一致性应用软件,我们都拥有合适的工具,可以帮助工程师快速验证 DDR 和 GDDR 存储器设计。”
该探测选件解决了 DDR 设计中的一个基本难题:使工程师能够在保持信号完整性的同时,对 DRAM 芯片上难以触及的位置进行探测。随着 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不断提高,设计裕量变得越来越少,探测系统的性能也变得更加重要。长线 ZIF 探针解决了这个探测难题。
DDR 和 GDDR 验证的另一个难题是根据 JEDEC 技术指标需要测试大量信号。长线 ZIF 探针使工程师能够轻松地对 SDRAM 设备上需要探测的多个信号进行切换。
长线 ZIF 探针完全满足对 DDR 存储器设计进行全面一致性测试的需求。
海力士图形存储器应用部副总裁 Kun-Sang Yoon表示:“我们对原来的 Agilent ZIF 探针附件一直都非常满意,但是我们希望有更长、更灵活的探针,以便能够探测距离更远的信号。安捷伦听取了我们的反馈意见,并快速做出回应,为我们提供了令人满意的探测解决方案。长线 ZIF 探针附件具有很高的信号完整性性能,使我们能够精确测量高速信号。”
安捷伦科技副总裁兼示波器产品线部门总经理Scott Sampl表示:“安捷伦密切关注客户的需求。我们的专家与海力士等业界领先厂商以及标准机构紧密合作,所以我们能够迅速做出反应,及时进行改变,以提高测量效率和精度。从 BGA 探测技术到一致性应用软件,我们都拥有合适的工具,可以帮助工程师快速验证 DDR 和 GDDR 存储器设计。”
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